UTD4152C Digital Storage Oscilloscope

UTD4152C oscilloscope

The UTD4152C oscilloscope steps up to 150MHz bandwidth within the UTD4000 series, giving technicians and engineers the headroom to capture faster signals than the 60MHz UTD4062C.

How It Works

Sampling at up to 2GS/s with a rise time of 2.3ns or better, the UTD4152C resolves fast digital edges and higher-frequency analog signals with confidence. Its 1024k-point record length keeps long capture windows detailed, and the 2mV-5V/div vertical sensitivity range covers both small-signal and higher-voltage measurements without switching probes.

Key Features

• 150MHz bandwidth, rise time ≤2.3ns
• Sample rate up to 2GS/s
• 1024k max record length
• 2mV-5V/div vertical sensitivity
• Built-in digital multimeter function
• Power: 100-240VAC, CAT II

Typical Applications

• High-speed digital circuit debugging
• RF-adjacent and communication signal analysis
• Advanced R&D and production test benches

Specifications

Bandwidth: 150MHz | Sample rate: 2GS/s | Record length: 1024k | Rise time: ≤2.3ns | Vertical sensitivity: 2mV-5V/div | Power: 100-240VAC CAT II

The jump from 60MHz to 150MHz bandwidth matters when working with faster microcontroller buses, switching power supplies, or communication signals where a lower-bandwidth scope would round off fast edges into misleading waveforms. Combined with the built-in DMM function, the UTD4152C lets a single bench instrument cover both detailed waveform capture and everyday voltage/resistance checks.

Setup and Probe Notes

Compensate the probes before any serious measurement session, because an uncompensated probe distorts square-wave edges enough to make a healthy signal look like a fault. Most scopes include a built-in calibration output for exactly this purpose, and the adjustment takes less than a minute with a small trimmer tool.

Match the probe attenuation setting on the scope to the physical switch on the probe itself, since a mismatch silently multiplies or divides every voltage reading by ten. Keep ground leads as short as practical when looking at fast edges, because a long ground loop adds ringing and overshoot that belong to the measurement setup rather than the circuit under test.

Reference: UNI-T UTD4152C product specifications | More UNI-T Measuring Instruments

UTD4152C oscilloscope

جهاز UTD4152C oscilloscope بتردد 150 ميجاهرتز ضمن سلسلة UTD4000، بيدي المهندسين والفنيين مساحة أكبر لالتقاط إشارات أسرع من الموديل UTD4062C بتردد 60 ميجاهرتز.

إزاي شغالة

الجهاز بيأخذ عينات بسرعة تصل لـ 2 جيجا عينة/ث وزمن صعود 2.3 نانوثانية أو أفضل، فبيقدر يمسك الحواف الرقمية السريعة والإشارات التناظرية عالية التردد بثقة. طول التسجيل يصل لـ 1024 ألف نقطة، والحساسية الرأسية من 2mV إلى 5V لكل قسمة بتغطي القياسات الصغيرة والكبيرة من غير تغيير المسبار.

المواصفات الأساسية

• تردد 150 ميجاهرتز، زمن صعود ≤2.3 نانوثانية
• سرعة عينة حتى 2 جيجا/ث
• طول تسجيل حتى 1024 ألف نقطة
• حساسية رأسية 2mV-5V لكل قسمة
• وظيفة ملتيميتر رقمي مدمجة
• الطاقة: 100-240 فولت CAT II

الاستخدامات

• تشخيص الدوائر الرقمية عالية السرعة
• تحليل إشارات الاتصال والترددات القريبة من RF
• معامل البحث والتطوير المتقدمة وخطوط الاختبار

المواصفات الفنية

التردد: 150 ميجاهرتز | سرعة العينة: 2 جيجا/ث | طول التسجيل: 1024 ألف نقطة | زمن الصعود: ≤2.3 نانوثانية | الحساسية الرأسية: 2mV-5V | الطاقة: 100-240 فولت CAT II

القفزة من 60 لـ150 ميجاهرتز بتفرق كتير مع باصات المتحكمات الدقيقة الأسرع، مزودات الطاقة التحويلية، أو إشارات الاتصال اللي جهاز أقل تردد ممكن يحولها لموجة مضللة. مع وظيفة الملتيميتر المدمجة، جهاز UTD4152C بيغطي التقاط الموجات التفصيلي وقراءات الفولت والمقاومة اليومية من جهاز واحد.

ملاحظات الإعداد والمساييب

اعمل معايرة للمساييب قبل أي جلسة قياس جدية، لأن مسبار غير معاير بيشوه حواف الموجة المربعة لدرجة تخلي إشارة سليمة تبان كأنها عطل. أغلب الأجهزة فيها خرج معايرة مدمج للغرض ده بالظبط، والضبط بياخد أقل من دقيقة بمفك صغير.

طابق إعداد تخفيف المسبار في الجهاز مع المفتاح الفيزيائي على المسبار نفسه، لأن عدم التطابق بيضرب أو يقسم كل قراءة فولت على عشرة من غير ما تحس. خلي أسلاك الأرضي قصيرة قد الإمكان وانت بتشوف حواف سريعة، لأن حلقة أرضي طويلة بتضيف رنين وتجاوز تابعين لإعداد القياس مش للدائرة اللي بتختبرها.